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    膜厚儀2最終版.jpg

    超納NanoX-M300mm晶圓自動膜厚測試儀,其可測量薄膜厚度在1nm到1mm之間,測量精度高達1埃,測量穩定性高達0.7埃,測量時間只需一到二秒, 并有手動及自動機型可選??蓱妙I域包括:微電子、生物醫學、液晶顯示,、硬涂層、金屬膜,、眼鏡涂層、聚對二甲笨、電路板、多孔硅、光阻材料 、陽光伏、真空鍍層、圈筒檢查等等。超納NanoX-M300mm晶圓自動膜厚測試儀具有測試精度高,測試時間短,操作便捷等優點。

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